Illuminated Essence – перадавы крышталь LSO(Ce) для палепшанай спектральнай адчувальнасці
Увядзіце скрынку для вафель
Наш крышталь LSO(Ce) уяўляе сабой вяршыню тэхналогіі сцынтыляцыйных матэрыялаў, прапаноўваючы выключную прадукцыйнасць у шырокім дыяпазоне прымянення. Распрацаваны з дакладнасцю і вопытам, гэты крышталь легаваны цэрыем (Ce) для павышэння эфектыўнасці яго святлоаддачы і спектральнай характарыстыкі.
Крышталь LSO(Ce) мае выдатнае энергетычнае разрозненне і характарыстыкі часу, што робіць яго ідэальным выбарам для пазітронна-эмісійнай тамаграфіі (ПЭТ), гама-спектраскапіі і іншых прымяненняў медыцынскай візуалізацыі і выяўлення выпраменьвання. Яго высокая светлавая аддача і хуткі час затухання забяспечваюць дакладнае і надзейнае выяўленне гама-прамянёў і іншага іанізуючага выпраменьвання.
Дзякуючы сваёй выдатнай прадукцыйнасці і надзейнасці, наш крышталь LSO(Ce) усталёўвае новы стандарт для сцынтыляцыйных матэрыялаў, што дазваляе дасягнуць поспеху ў навуковых даследаваннях, медыцынскай дыягностыцы і забеспячэнні бяспекі краіны. Адчуйце беспрэцэдэнтную адчувальнасць і дакладнасць з нашым крышталем LSO(Ce), які стымулюе інавацыі і адкрыцці ў розных галінах.
Дыяграма дадзеных
| Сцынтыляцыйныя крышталі LSO(Ce) | ||
| Маёмасць | Адзінкі | Значэнне |
| Хімічная формула | Lu₂SiO₅(Ce) | |
| Шчыльнасць | г/см³ | 7.4 |
| Атамны нумар (эфектыўны) | 75 | |
| Тэмпература плаўлення | °C | 2050 год |
| Каэфіцыент цеплавога пашырэння. | C⁻¹ | TBA x 10‾⁶ |
| Плоскасць расшчаплення | Няма | |
| Цвёрдасць | Мхо | 5.8 |
| Гіграскапічны | No | |
| Растваральнасць | г/100 гH₂0 | Няма дадзеных |
|
|
| |
| Сцынтыляцыйныя крышталі LSO(Ce) | ||
| Маёмасць | Адзінкі | Значэнне |
| Даўжыня хвалі (макс. выпраменьванне) | nm | 420 |
| Дыяпазон даўжынь хваль | nm | Пацверджана пазней |
| Часы распаду | ns | 40 |
| выхад святла | фатоны/кеВ | 30 |
| Выхад фотаэлектронаў | % ад NaI(Tl) | 75 |
| Даўжыня выпраменьвання | cm | 1.14 |
| Аптычная перадача | мкм | Пацверджана пазней |
| Прапускальнасць | % | Пацверджана пазней |
| Паказчык праламлення |
| 1,82 пры 420 нм |
| Страты адлюстравання/паверхня | % | Пацверджана пазней |
| Папярочны сячэнне захопу нейтронаў | хлявы | Пацверджана пазней |
Падрабязная дыяграма
